SOC/ASIC设计.验证和测试方法学

ISBN: 9787306026828

出版社: 中山大学

出版年: 2006-3

页数: 260

定价: 35.00元

内容简介

本书阐述设计系统芯片(SOC)所需的新的设计、验证和测试方法学，其基本原理同样适合于超大规模专用集成电路芯片(ASIC)的设计。 本书分两大部分：第一部分为1～5章，是本书方法学的主要内容；第二部分为6，7章，介绍实际的电子设计自动化(EDA)工具和设计环境。第1章简述集成电路的发展，介绍国际半导体技术路线图，以及SOC设计所面临的挑战。第2章阐述SOC设计方法学，包括SOC的模型、设计分层，介绍设计重用和虚拟插座接口技术。第3章阐述SOC／ASIC验证方法学，包括功能验证、等价验证、静态分析验证、物理验证等。第4章阐述SOC／ASIC测试方法学，介绍集成电路测试技术和可测试性设计方法。第5章介绍设计集成电路常用的硬件描述语言及其新发展，包括SystemC，SystemVeri—log，OpenVera等语言。第6章介绍synopsys公司的EDA系统，以及相应的IC设计和验证方法学。第7章给出一个Philips S0C设计平台的实例。

本书主要是面向进入IC设计领域工作的科技人员、相关专业大学生和研究生，以及对高新技术有兴趣、需要更新知识的人群。