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ISBN: 9787118057782
出版年: 2008-7
页数: 302
定价: 39.00元
《X射线衍射分析技术》内容包括X射线物理学基础、晶体和空间点阵、X射线衍射方向、X射线衍射强度、X射线衍射方法、X射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观残余应力的测定、晶粒尺寸和微观应力的测定、全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件等共10章及附录。